Vaš brskalnik ne omogoča JavaScript!
JavaScript je nujen za pravilno delovanje teh spletnih strani. Omogočite JavaScript ali pa uporabite sodobnejši brskalnik.
Nacionalni portal odprte znanosti
Odprta znanost
DiKUL
slv
|
eng
Iskanje
Brskanje
Novo v RUL
Kaj je RUL
V številkah
Pomoč
Prijava
Meritev debelin ultra-tankih plasti z metodo rentgenske fotoelektronske spektroskopije : diplomsko delo
ID
Franinović, Marko
(
Avtor
),
ID
Cvetko, Dean
(
Mentor
)
Več o mentorju...
,
ID
Kovač, Janez
(
Komentor
)
PDF - Predstavitvena datoteka,
prenos
(2,98 MB)
MD5: 178AF07FCA81DE82B7A2579D59D58AF5
PID:
20.500.12556/rul/3a9f3e35-833a-4937-a078-548e9f58d437
Galerija slik
Jezik:
Slovenski jezik
Ključne besede:
ultra-tanke plasti
,
rentgenska fotoelektronska spektroskopija
,
fotoefekt
Vrsta gradiva:
Diplomsko delo
Tipologija:
2.11 - Diplomsko delo
Organizacija:
FMF - Fakulteta za matematiko in fiziko
Kraj izida:
Ljubljana
Založnik:
[M. Franinović]
Leto izida:
2016
Št. strani:
72 str.
PID:
20.500.12556/RUL-97515
UDK:
543.428:539.26
COBISS.SI-ID:
2926692
Datum objave v RUL:
26.10.2017
Število ogledov:
3362
Število prenosov:
473
Metapodatki:
Citiraj gradivo
Navadno besedilo
BibTeX
EndNote XML
EndNote/Refer
RIS
ABNT
ACM Ref
AMA
APA
Chicago 17th Author-Date
Harvard
IEEE
ISO 690
MLA
Vancouver
:
Kopiraj citat
Objavi na:
Sekundarni jezik
Jezik:
Angleški jezik
Ključne besede:
ultra-thin films
,
X-ray photoelectron spectroscopy
,
photoeffect
Podobna dela
Podobna dela v RUL:
Podobna dela v drugih slovenskih zbirkah:
Nazaj