izpis_h1_title_alt

Meritev debelin ultra-tankih plasti z metodo rentgenske fotoelektronske spektroskopije : diplomsko delo
Franinović, Marko (Avtor), Cvetko, Dean (Mentor) Več o mentorju... Povezava se odpre v novem oknu, Kovač, Janez (Komentor)

.pdfPDF - Predstavitvena datoteka, prenos (2,98 MB)
Jezik:Slovenski jezik
Ključne besede:ultra-tanke plasti, rentgenska fotoelektronska spektroskopija, fotoefekt
Vrsta gradiva:Diplomsko delo (m5)
Tipologija:2.11 - Diplomsko delo
Organizacija:FMF - Fakulteta za matematiko in fiziko
Leto izida:2016
Založnik:[M. Franinović]
Št. strani:72 str.
UDK:543.428:539.26
COBISS.SI-ID:2926692 Povezava se odpre v novem oknu
Število ogledov:351
Število prenosov:265
Metapodatki:XML RDF-CHPDL DC-XML DC-RDF
 
Skupna ocena:(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
:
Objavi na:AddThis
AddThis uporablja piškotke, za katere potrebujemo vaše privoljenje.
Uredi privoljenje...

Sekundarni jezik

Jezik:Angleški jezik
Ključne besede:ultra-thin films, X-ray photoelectron spectroscopy, photoeffect

Podobna dela

Podobna dela v RUL:
Podobna dela v drugih slovenskih zbirkah:

Komentarji

Dodaj komentar

Za komentiranje se morate prijaviti.

Komentarji (0)
0 - 0 / 0
 
Ni komentarjev!

Nazaj