izpis_h1_title_alt

Razvojno testiranje RFID značke : diplomsko delo
Štraus, Darko (Avtor), Pleteršek, Anton (Mentor) Več o mentorju... Povezava se odpre v novem oknu, Kramberger, Iztok (Komentor)

URLURL - Predstavitvena datoteka, za dostop obiščite http://dkum.uni-mb.si/Dokument.php?id=10285 Povezava se odpre v novem oknu

Izvleček
V diplomski nalogi je predstavljeno razvojno testiranje integriranega vezja za RFID značko, ki ima dodatno funkcionalnost za zajemanje podatkov integriranih in zunanjih analognih senzorjev in jo imenujemo pametna nalepka SAL. Na kratko so opisane osnove delovanja RFID sistemov in njihove komponente. Predstavljena je priprava testnega sistema, ki ga sestavlja testno vezje in programska oprema za izvajanje meritev. Predstavljene so metode, ki so bile uporabljene za merjenje integriranega vezja in nekateri rezultati meritev. Zgradba merjenca, integriranega vezja SAL_UHF, je predstavljena z blokovnimi diagrami. V diplomski nalogi smo se omejili na testiranje nekaterih funkcij integriranega vezja, saj bi bilo testiranje vseh funkcij za diplomsko nalogo preobsežna dokumentacija. Namen diplomske naloge je temeljito in zanesljivo meriti parametre in funkcionalnost integriranega vezja.

Jezik:Slovenski jezik
Ključne besede:izpraševalnik, značka, pametna nalepka, aktivna nalepka, pasivna nalepka, RFID, EPC-GEN2, parametrični test, funkcionalni test, univerzitetni študij, diplomske naloge
Vrsta gradiva:Diplomsko delo (m5)
Tipologija:2.11 - Diplomsko delo
Organizacija:FE - Fakulteta za elektrotehniko
Leto izida:2009
Založnik:[D. Štraus]
Št. strani:VII, 58 f.
UDK:621.396/.398(043.2)
COBISS.SI-ID:7291732 Povezava se odpre v novem oknu
Število ogledov:245
Število prenosov:110
Metapodatki:XML RDF-CHPDL DC-XML DC-RDF
 
Skupna ocena:(0 glasov)
Vaša ocena:Ocenjevanje je dovoljeno samo prijavljenim uporabnikom.
:
Objavi na:AddThis
AddThis uporablja piškotke, za katere potrebujemo vaše privoljenje.
Uredi privoljenje...

Sekundarni jezik

Jezik:Angleški jezik
Naslov:DEVELOPMENT TESTING OF AN RFID TAG
Izvleček:
This work describes development testing of integrated circuit for RFID tag, which is also capable of capturing data with integrated internal or external sensors. Such devices are called smart active label – SAL. Basics of RFID system and its components are briefly described. Making of testing system, which is made of testing circuit and software, is described. Methods used and some measurement results are also presented. Structure of the measured object, integrated circuit SAL_UHF, is presented with block diagrams. Only testing of some functions of integrated circuit are described in this work, since testing all functions would produce too much data for this paper. The purpose of this work is to thoroughly and reliably measure parameters and functionality of integrated circuit.

Ključne besede:integrated circuit testing, RFID system

Podobna dela

Podobna dela v RUL:
Podobna dela v drugih slovenskih zbirkah:

Komentarji

Dodaj komentar

Za komentiranje se morate prijaviti.

Komentarji (0)
0 - 0 / 0
 
Ni komentarjev!

Nazaj