Vaš brskalnik ne omogoča JavaScript!
JavaScript je nujen za pravilno delovanje teh spletnih strani. Omogočite JavaScript ali pa uporabite sodobnejši brskalnik.
Nacionalni portal odprte znanosti
Odprta znanost
DiKUL
slv
|
eng
Iskanje
Brskanje
Novo v RUL
Kaj je RUL
V številkah
Pomoč
Prijava
Analiza metod pospešenega staranja elektronskih komponent : diplomsko delo
ID
Tratar, Boštjan
(
Avtor
),
ID
Mraz, Miha
(
Mentor
)
Več o mentorju...
PDF - Predstavitvena datoteka,
prenos
(1,23 MB)
MD5: D6D003C21A2162B2B3535C663DD775DB
Galerija slik
Jezik:
Slovenski jezik
Ključne besede:
elektronske komponente
,
staranje elektronskih komponent
,
analiza
,
testiranje
,
testne komore
,
računalništvo
,
visokošolski strokovni študij
,
diplomske naloge
Vrsta gradiva:
Diplomsko delo
Tipologija:
2.11 - Diplomsko delo
Organizacija:
FRI - Fakulteta za računalništvo in informatiko
Kraj izida:
Ljubljana
Založnik:
B. Tratar
Leto izida:
2010
Št. strani:
32 f.
PID:
20.500.12556/RUL-156753
UDK:
004(043.2)
COBISS.SI-ID:
7575380
Datum objave v RUL:
26.05.2024
Število ogledov:
135
Število prenosov:
11
Metapodatki:
Citiraj gradivo
Navadno besedilo
BibTeX
EndNote XML
EndNote/Refer
RIS
ABNT
ACM Ref
AMA
APA
Chicago 17th Author-Date
Harvard
IEEE
ISO 690
MLA
Vancouver
:
Kopiraj citat
Objavi na:
Sekundarni jezik
Jezik:
Angleški jezik
Naslov:
Analysis of accelerated life test methods of electronic components
Podobna dela
Podobna dela v RUL:
Podobna dela v drugih slovenskih zbirkah:
Nazaj