Podrobno

Časovno odvisni tok skozi kvantno piko v prisotnosti napetostne sonde : diplomsko delo
ID Leban, Andrej (Avtor), ID Rejec, Tomaž (Mentor) Več o mentorju... Povezava se odpre v novem oknu

.pdfPDF - Predstavitvena datoteka, prenos (1,19 MB)
MD5: 53EDC2FAC35764B93B8FA6BD21D5B0AE
PID: 20.500.12556/rul/e0523bc3-a2c7-420c-a1fa-ea972430e38a

Jezik:Slovenski jezik
Ključne besede:kvantna mehanika, kvantne pike, resonančno tuneliranje, dekoherenca, Büttikerjeva napetostna sonda, elektronski transport, fizika kondenzirane snovi, mezoskopski sistemi
Vrsta gradiva:Diplomsko delo
Tipologija:2.11 - Diplomsko delo
Organizacija:FMF - Fakulteta za matematiko in fiziko
Kraj izida:Ljubljana
Založnik:[A. Leban]
Leto izida:2016
Št. strani:57 str.
PID:20.500.12556/RUL-97516 Povezava se odpre v novem oknu
UDK:530.145:538.9
COBISS.SI-ID:2936164 Povezava se odpre v novem oknu
Datum objave v RUL:26.10.2017
Število ogledov:2652
Število prenosov:670
Metapodatki:XML DC-XML DC-RDF
:
LEBAN, Andrej, 2016, Časovno odvisni tok skozi kvantno piko v prisotnosti napetostne sonde : diplomsko delo [na spletu]. Diplomsko delo. Ljubljana : A. Leban. [Dostopano 8 junij 2025]. Pridobljeno s: https://repozitorij.uni-lj.si/IzpisGradiva.php?lang=slv&id=97516
Kopiraj citat
Objavi na:Bookmark and Share

Sekundarni jezik

Jezik:Angleški jezik
Ključne besede:quantum mechanics, quantum dots, resonant tunneling, decoherence, Büttiker voltage probe, electronic transport, condensed matter physics, mesoscopic systems

Podobna dela

Podobna dela v RUL:
  1. Simulacija strukture ikozaedričnega kvazikristala
  2. Urejanje polaronov v dveh dimenzijah
  3. Stanja blizu feromagnetne nestabilnosti v zlitinah YFe[spodaj]2 (Ge, Si)[spodaj]2
  4. Meritev debelin ultra-tankih plasti z metodo rentgenske fotoelektronske spektroskopije
  5. Ultrafast spin density wave dynamics at intense optical pulse excitation
Podobna dela v drugih slovenskih zbirkah:
  1. Conductive atomic force microscopy investigations of quantum dots and quantum rings
  2. Initial stages of organic semiconductor thin film growth
  3. Nanašanje tankih plasti po metodi curka ioniziranih skupkov, CIS
  4. Graphene/organic semiconductor systems
  5. Preiskave polimernih tankih slojev z mikroskopom na atomsko silo

Nazaj