Podrobno

Stres na delovnem mestu : analiza virov in načinov obvladovanja
ID Šulc, Sonja (Avtor), ID Mihelič, Katarina Katja (Mentor) Več o mentorju... Povezava se odpre v novem oknu

URLURL - Predstavitvena datoteka, za dostop obiščite http://www.cek.ef.uni-lj.si/u_diplome/sulc14595.pdf Povezava se odpre v novem oknu

Jezik:Slovenski jezik
Ključne besede:delovno mesto, delovni pogoji, okolje, zdravje, bolezni, stres, raziskave, analiza
Vrsta gradiva:Diplomsko delo
Tipologija:2.11 - Diplomsko delo
Organizacija:EF - Ekonomska fakulteta
Kraj izida:Ljubljana
Založnik:[S. Šulc]
Leto izida:2016
Št. strani:II, 39, 5 str.
PID:20.500.12556/RUL-84038 Povezava se odpre v novem oknu
UDK:658.3
COBISS.SI-ID:23096294 Povezava se odpre v novem oknu
Datum objave v RUL:08.07.2016
Število ogledov:3527
Število prenosov:291
Metapodatki:XML DC-XML DC-RDF
:
ŠULC, Sonja, 2016, Stres na delovnem mestu : analiza virov in načinov obvladovanja [na spletu]. Diplomsko delo. Ljubljana : S. Šulc. [Dostopano 16 junij 2025]. Pridobljeno s: http://www.cek.ef.uni-lj.si/u_diplome/sulc14595.pdf
Kopiraj citat
Objavi na:Bookmark and Share

Sekundarni jezik

Jezik:Angleški jezik
Ključne besede:job, working conditions, environment, health, diseases, stress, research, analysis

Podobna dela

Podobna dela v RUL:
  1. Formation of silver nanoparticles on lignin and two of its precursors
  2. Superhydrophilic coating of pine wood by plasma functionalization of self-assembled polystyrene spheres
  3. Meritev debelin ultra-tankih plasti z metodo rentgenske fotoelektronske spektroskopije
  4. Modifikacija površinskih lastnosti polipropilena z neravnovesno induktivno sklopljeno plinsko plazmo dušika
  5. Phase changes in molybdenum oxides induced by AFM tip and laser excitation
Podobna dela v drugih slovenskih zbirkah:
  1. Optical properties of plastically deformed copper
  2. Graphene/organic semiconductor systems
  3. Determination of microstructural changes by severely plastically deformed copper-aluminum alloy: Optical study
  4. Investgation of fibre surfaces using Atomic Force Microscopy (ATM)
  5. Operando (micro) XAFS analysis

Nazaj