izpis_h1_title_alt

Analiza metod pospešenega staranja elektronskih komponent : diplomsko delo
ID Tratar, Boštjan (Avtor), ID Mraz, Miha (Mentor) Več o mentorju... Povezava se odpre v novem oknu

.pdfPDF - Predstavitvena datoteka, prenos (1,23 MB)
MD5: D6D003C21A2162B2B3535C663DD775DB

Jezik:Slovenski jezik
Ključne besede:elektronske komponente, staranje elektronskih komponent, analiza, testiranje, testne komore, računalništvo, visokošolski strokovni študij, diplomske naloge
Vrsta gradiva:Diplomsko delo
Tipologija:2.11 - Diplomsko delo
Organizacija:FRI - Fakulteta za računalništvo in informatiko
Kraj izida:Ljubljana
Založnik:B. Tratar
Leto izida:2010
Št. strani:32 f.
PID:20.500.12556/RUL-156753 Povezava se odpre v novem oknu
UDK:004(043.2)
COBISS.SI-ID:7575380 Povezava se odpre v novem oknu
Datum objave v RUL:26.05.2024
Število ogledov:52
Število prenosov:4
Metapodatki:XML RDF-CHPDL DC-XML DC-RDF
:
Kopiraj citat
Objavi na:Bookmark and Share

Sekundarni jezik

Jezik:Angleški jezik
Naslov:[Analysis of accelerated life test methods of electronic components]

Podobna dela

Podobna dela v RUL:
Podobna dela v drugih slovenskih zbirkah:

Nazaj