Analiza metod pospešenega staranja elektronskih komponent : diplomsko delo

Analiza metod pospešenega staranja elektronskih komponent : diplomsko delo
ID Tratar, Boštjan (Avtor), ID Mraz, Miha (Mentor) Več o mentorju... Povezava se odpre v novem oknu

PDF - Predstavitvena datoteka, prenos (1,23 MB)
MD5: D6D003C21A2162B2B3535C663DD775DB

Jezik:	Slovenski jezik
Ključne besede:	elektronske komponente, staranje elektronskih komponent, analiza, testiranje, testne komore, računalništvo, visokošolski strokovni študij, diplomske naloge
Vrsta gradiva:	Diplomsko delo
Tipologija:	2.11 - Diplomsko delo
Organizacija:	FRI - Fakulteta za računalništvo in informatiko
Kraj izida:	Ljubljana
Založnik:	B. Tratar
Leto izida:	2010
Št. strani:	32 f.
PID:	20.500.12556/RUL-156753
UDK:	004(043.2)
COBISS.SI-ID:	7575380
Datum objave v RUL:	26.05.2024
Število ogledov:	64
Število prenosov:	5
Metapodatki:
:	Kopiraj citat
Objavi na:

Sekundarni jezik

Jezik:	Angleški jezik
Naslov:	[Analysis of accelerated life test methods of electronic components]

Podobna dela v RUL:
Podobna dela v drugih slovenskih zbirkah:

Nazaj