izpis_h1_title_alt

Sistem za prostorsko skeniranje elektromagnetnih motenj elektronskih naprav v bližnjem polju
ID GOVEDNIK, JANEZ (Avtor), ID Jankovec, Marko (Mentor) Več o mentorju... Povezava se odpre v novem oknu

.pdfPDF - Predstavitvena datoteka, prenos (12,77 MB)
MD5: C03DEE851676456FDE5DE5C6AEE747B1

Izvleček
V pričujočem magistrskem delu se ukvarjamo z zasnovo in razvojem sistema za avtomatizirano merjenje elektromagnetnih motenj v bližnjem polju. Takšen sistem se običajno uporablja za meritve v fazi razvoja, predvsem za lociranje virov povišanega elektromagnetnega sevanja v elektronskih vezjih ali napravah. Pri zasnovi sistema sem se nekoliko upiral na že obstoječe sisteme, ki jih ni veliko, so pa predvsem dragi, zaradi velikosti nepraktični in podobno. Želeli smo narediti sistem, ki bi si ga lahko sestavil vsak sam in bil preprost za uporabo. Rezultat je razvit in izdelan prototip sistema za avtomatizirano merjenje elektromagnetnih motenj v bližnjem polju. Naredil sem preizkus delovanja sistema, tako da sem s sondo za bližnje polje, ki je bila vpeta v dvoosni mehanizem, preletel površino izbranega elektronskega vezja. Meritev je dala rezultat v obliki 2D grafa intenzitete elektromagnetnega sevanja nad vezjem. Dobljene rezultate smo primerjali z rezultati, ki jih dobimo pri merjenju z Detectusovim merilnim sistemom.

Jezik:Slovenski jezik
Ključne besede:EMC, bližnje polje, elektromagnetna združljivost, električne sonde, magnetne sonde, razvojne meritve, LabVIEW, Arduino
Vrsta gradiva:Magistrsko delo/naloga
Organizacija:FE - Fakulteta za elektrotehniko
Leto izida:2018
PID:20.500.12556/RUL-103739 Povezava se odpre v novem oknu
Datum objave v RUL:24.09.2018
Število ogledov:2033
Število prenosov:384
Metapodatki:XML DC-XML DC-RDF
:
Kopiraj citat
Objavi na:Bookmark and Share

Sekundarni jezik

Jezik:Angleški jezik
Naslov:A system for spatial scanning of electromagnetic interference of electronic devices in the near field
Izvleček:
Main topic of the presented thesis was design and development of automatic measurement system of electromagnetic interferences in the near field. Such systems are usually used in developmental stages, especially to locate electromagnetic radiation sources of electronic circuits and devices. Commercial existing systems were used as a support for design of our measuring system, however most of them are usually expensive, impractical due to the size etc. Therefore our wish was to develop and build a user friendly measuring system that anybody could build. As a result, a prototype system for automatic measurement of electromagnetic disturbances in the near field was developed and constructed. Test of the system was performed where surface of electronic circuit was scanned with the near field probe using two axe mechanism. Measurement resulted in 2D electromagnetic radiation intensity graph above the circuit. Collected results in this way were compared with the ones acquired by Detectus’s measuring system.

Ključne besede:EMC, near field, electromagnetic compatibility, electric probes, magnetic probes, developmental measurements, LabVIEW, Arduino

Podobna dela

Podobna dela v RUL:
Podobna dela v drugih slovenskih zbirkah:

Nazaj