Detekcija anomalij v industrijskih aplikacijah se običajno vrednoti na standardnih podatkovnih množicah, kot sta MVTec AD in VisA, katerih podatki so bili zajeti v nadzorovanih pogojih. Uspešnost metod na teh podatkovnih množicah se ne prenese nujno v realna okolja. V nenadzorovanih industrijskih okoljih slike pogosto vsebujejo več objektov, raznolika ozadja in nekonsistentne orientacije, kar bistveno otežuje detekcijo anomalij. To magistrsko delo rešuje te izzive s tristopenjskim postopkom za detekcijo anomalij, katerega cilj je zmanjšanje vpliva okolja pred samo detekcijo anomalij. Postopek vključuje detekcijo objektov, kanonizacijo in detekcijo anomalij, pri čemer se vsak objekt pretvori v kanonično obliko. Predlagan pristop je ovrednoten na podatkovni množici za detekcijo anomalij na električnih izolatorjih ter na izbranih kategorijah referenčnih podatkovnih množic MVTec AD in VisA, pri čemer so uporabljene nenadzorovane metode detekcije anomalij. Eksperimentalni rezultati kažejo, da ustrezna predobdelava dosledno izboljša uspešnost detekcije anomalij na podatkovni množici z izolatorji ter ima merljiv vpliv tudi na izbrane kategorije podatkovnih množic MVTec AD in VisA.
|