Podrobno

Analiza izbranih vidikov privatizacije visokega šolstva v Republiki Sloveniji : diplomsko delo
ID Tacer, Uroš (Avtor), ID Aristovnik, Aleksander (Mentor) Več o mentorju... Povezava se odpre v novem oknu

.pdfPDF - Predstavitvena datoteka, prenos (496,55 KB)
MD5: D5050E4FF02511B1BEFFAC9486819765
PID: 20.500.12556/rul/96c2249b-c822-47bc-9b9f-c21858bbcd0c

Jezik:Slovenski jezik
Ključne besede:visoko šolstvo, privatizacija, Slovenija, diplomske naloge
Vrsta gradiva:Diplomsko delo/naloga
Tipologija:2.11 - Diplomsko delo
Organizacija:FU - Fakulteta za upravo
Kraj izida:Ljubljana
Založnik:[U. Tacer]
Leto izida:2014
Št. strani:IX, 51 str.
PID:20.500.12556/RUL-89930 Povezava se odpre v novem oknu
UDK:378:332.025.28(497.4)(043.2)
COBISS.SI-ID:4410542 Povezava se odpre v novem oknu
Datum objave v RUL:29.03.2017
Število ogledov:1580
Število prenosov:141
Metapodatki:XML DC-XML DC-RDF
:
TACER, Uroš, 2014, Analiza izbranih vidikov privatizacije visokega šolstva v Republiki Sloveniji : diplomsko delo [na spletu]. Diplomsko delo. Ljubljana : U. Tacer. [Dostopano 3 april 2025]. Pridobljeno s: https://repozitorij.uni-lj.si/IzpisGradiva.php?lang=slv&id=89930
Kopiraj citat
Objavi na:Bookmark and Share

Podobna dela

Podobna dela v RUL:
  1. Vpliv robnih učinkov na lasersko induciran pomik površine neprozornih materialov s fototermalno interferometrijo
  2. Time-resolved imaging of flyer dynamics for femtosecond laser-induced backward transfer of solid polymer thin films
  3. Ultrafast measurement of laser-induced shock waves
  4. Laser induced microbubbles as an alternative driver for liquid pumping
  5. Sistem za merjenje praga lasersko povzročenih poškodb na optičnih komponentah
Podobna dela v drugih slovenskih zbirkah:
  1. Photothermal gas sensing with a custom-made, fiber-coupled Fabry–Pérot etalon
  2. Postopek za shranjevanje električne energije v trdni snovi
  3. Primerjalno umerjanje laserskih interferometrov
  4. Termo-Optični modulator optične poti
  5. Pump-probe photothermal self-mixing system for highly sensitive trace detection

Nazaj