Podrobno

Pokojninsko zavarovanje : diplomsko delo univerzitetnega programa
ID Sinjur, Urška (Avtor), ID Pevcin, Primož (Mentor) Več o mentorju... Povezava se odpre v novem oknu

.pdfPDF - Predstavitvena datoteka, prenos (1,08 MB)
MD5: 7554F32E835BF79E1306C3236374CD25
PID: 20.500.12556/rul/673d1a15-866e-4f74-9bcc-22a39e595669

Jezik:Slovenski jezik
Ključne besede:pokojnine, pokojninski skladi, pokojninsko zavarovanje, Slovenija, diplomske naloge
Vrsta gradiva:Diplomsko delo
Tipologija:2.11 - Diplomsko delo
Organizacija:FU - Fakulteta za upravo
Kraj izida:Ljubljana
Založnik:[U. Sinjur]
Leto izida:2009
Št. strani:IV, 58 str.
PID:20.500.12556/RUL-2459 Povezava se odpre v novem oknu
UDK:368.914(497.4)(043.2)
COBISS.SI-ID:3267246 Povezava se odpre v novem oknu
Datum objave v RUL:11.07.2014
Število ogledov:4935
Število prenosov:535
Metapodatki:XML DC-XML DC-RDF
:
SINJUR, Urška, 2009, Pokojninsko zavarovanje : diplomsko delo univerzitetnega programa [na spletu]. Diplomsko delo. Ljubljana : U. Sinjur. [Dostopano 6 april 2025]. Pridobljeno s: https://repozitorij.uni-lj.si/IzpisGradiva.php?lang=slv&id=2459
Kopiraj citat
Objavi na:Bookmark and Share

Podobna dela

Podobna dela v RUL:
  1. characterization of microstructure of WC-Co tools
  2. Analysis of initial mixtures and combustion products of some pyrotechnic compounds
  3. Preparation and characterization of aluminium calcium titanate(IV)
  4. Superhydrophilic coating of pine wood by plasma functionalization of self-assembled polystyrene spheres
  5. Scanning electron microscopy analysis in assisted reproduction technology
Podobna dela v drugih slovenskih zbirkah:
  1. Application of backstattered-electron micrographs for phase identification
  2. The environmental scanning electron microscopy (ESEM)
  3. Mikrostruktura in visokotemperaturna stabilnost hitrostrjenih trakov zlitin Cu-Sm, Cu-Er in Cu-Yb
  4. UV N2 laser ablation of a Cu-Sn-Zn-Pb alloy: microstructure and topography studied by focused ion beam
  5. Raziskave kontinuirano vlitih vzorcev ternerne zlitine Cu-Si-Mn

Nazaj