Glavni cilj te magistrske naloge je karakterizacija spektrografa HERMES, ki ga uporablja projekt GALAH preko analize njegovega resolucijskega profila. Uporabili smo približno 100 različnih spektrov različnih zvezd, ki jih dobimo iz tekočih GALAH opazovanjih. Naprej smo preučevali funkcijo, ki nam poda instrumentalno razširitev črt in posledično resolucijski profila po celotnem območju valovnih dolžin. Prilagajali smo črte zemljske atmosfere v dveh od vseh štiri območja valovne dolžine spektrografa (rdeči 6481 ⠒ 6739 Å and infra rdeči 7590 ⠒ 7890 Å kanal) iz česa smo dobili celotno širino na polovični višini. Ugotovili smo, da se modelirani resolucijski profil in izmerjena celotna širina na polovični višini ujemata zelo dobro. V drugem delu te magistrske naloge smo uporabili tri različne metode za modeliranje spektralnih črt. Modeliranje črt je bilo narejeno preko sintetizacije spektrov z visoko resolucijo R = 300000 s pomočjo programa iSpec. S prvo metodo sintetični spekter popravimo za modelirani resolucijski profil tako, da naredimo konvolucijo med obema. V drugi metodi degradiramo resolucijo opazovanih in sintetičnih spektrov na vrednost R = 22000. Pri zadnji metodi predpostavimo nominalno resolucijo spektrografa R = 28000 za resolucijo opazovanih spektrov in posledično degradiramo resolucijo sintetičnih spektrov na to vrednost. Najbolj prilegajoč sintetični spekter smo izbrali preko χ2 testa. Za vse metode izračunamo relativno negotovost v pridobljenih parametrih: efektivna temperatura zvezde (Teff), gravitacija na površju (log g), kovinskost [M/H], rotacijska hitrost (vsini) in zastopanost natrija, kalcija in silicija. Efektivna temperatura in gravitacija na površju zvezd ne kažeta velike spremembe če primerjamo prvi dve metodi, kovinskost ima manjšo relativno negotovost, ko degradiramo resolucijo na R = 22000. Rotacijska hitrost je pri vseh metodah zelo slabo določena. Točnost omenjenih parametrov je tudi bila izražunana tako, da smo predpostavili homogenost v zastopanosti elementov znotraj opazovane kopice. Dobili smo, da zastopanosti elementov, ki ju dobimo preko črte, ki se nahajajo na robovih čutijo večji vpliv iz spremenljive resolucije. Zastopanost silicija in kovinskost, ki ju dobimo iz modeliranih črt v sredini opazovanega območja valovne dolžine kaže enako točnost pri prvih dveh metodah. Glede na izmerjeno točnost in relativna negotovost zastopanosti elementov lahko zaključimo, da ne smemo predpostaviti no- minalno resolucijo spektrografa ko merimo zastopanost kemičnih elementov.
|