<?xml version="1.0"?>
<metadata xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"><dc:title>MODELIRANJE ŠIRJENJA SVETLOBE V SIPAJOČIH MEDIJIH ZA REFLEKTANČNO SPEKTROSKOPIJO Z OPTIČNIMI SONDAMI</dc:title><dc:creator>Naglič,	Peter	(Avtor)
	</dc:creator><dc:creator>Buermen,	Miran	(Mentor)
	</dc:creator><dc:subject>sipajoči medij</dc:subject><dc:subject>simulacije Monte Carlo</dc:subject><dc:subject>sipanje svetlobe</dc:subject><dc:subject>modeliranje širjenja svetlobe</dc:subject><dc:subject>reflektančna spektroskopija</dc:subject><dc:subject>sipalna fazna funkcija</dc:subject><dc:subject>optične sonde</dc:subject><dc:subject>sub-difuzijski režim</dc:subject><dc:subject>sipajoči fantomi</dc:subject><dc:description>Reflektančna spektroskopija je eksperimentalna metoda za zajem in analizo povratno sipane svetlobe iz snovi. Na snov navadno posvetimo s širokospektralnim svetilom v vidnem in bližnje infrardečem področju. Vpadna svetloba se glede na lomni količnik snovi bodisi odbije neposredno od površine, bodisi lomi v snov. V snovi je svetloba podvržena procesom absorpcije in sipanja. Zaradi sipanja, ki spreminja smer širjenja svetlobe, znaten del svetlobe povsem spremeni začetno smer širjenja in zapusti snov. Eksperimentalno lahko to svetlobo zaznamo z optičnimi sondami [1] in integracijskimi sferami [2], služi pa tudi kot glavni vir informacije pri hiperspektralnem slikanju [3]. Rezultat zajema in analize povratno sipane svetlobe z reflektančno spektroskopijo je reflektančni spekter, ki nosi informacijo o strukturi in kemijski sestavi opazovane sipajoče snovi. 
Reflektančna spektroskopija se najpogosteje uporablja za določanje optičnih lastnosti snovi (tj. absorpcijskih in sipalnih lastnosti) na področju biomedicine [4]. Prednost reflektančne spektroskopije je osvetljevanje in zbiranje svetlobe z iste strani snovi, pri čemer uporabljamo svetila nizkih intenzitet, kar med drugim omogoča tudi neinvazivno določanje lastnosti snovi [5–8]. Optične lastnosti snovi določimo s pomočjo modeliranja reflektančnih spektrov, ki jih prilegamo na izmerjene spektre. Pri tem spreminjamo parametre modela, tj. optične lastnosti, dokler ne najdemo optimalnega ujemanja med modelom in meritvijo [7,9–16]. 
Namen naših študij bo nadaljnji razvoj modelov za simulacijo in analizo reflektančnih spektrov pridobljenih s pomočjo optičnih sond ter njihovo objektivno vrednotenje na eksperimentalni ravni.</dc:description><dc:date>2017</dc:date><dc:date>2017-05-25 14:35:02</dc:date><dc:type>Doktorsko delo/naloga</dc:type><dc:identifier>92376</dc:identifier><dc:identifier>VisID: 38722</dc:identifier><dc:identifier>COBISS_ID: 11759700</dc:identifier><dc:language>sl</dc:language></metadata>
