Razvoj sistema za proizvodno testiranje namenskih čipovROTOVNIK, MATIC (Avtor) Trost, Andrej (Mentor) Sešek, Aleksander (Komentor) Silicijeva rezinasortirnik rezintestna napravaintegrirana vezjaavtomatizirana testna oprematestiranjePri razvoju in proizvodnji integriranih vezij igra njihovo dosledno testiranje ključno vlogo. Ponuja dragocene povratne informacije o zasnovi in kakovosti proizvodnje. To še posebej velja za testiranje v zgodnjih fazah proizvodnje, kot je na ravni silicijevih rezin. Komercialna testna oprema je pogosto zelo draga, zato smo si zastavili izziv: razviti lasten testni sistem, prilagojen specifični družini integriranih vezij. V delu najprej predstavimo razloge in osnovne pristope testiranja. Sledi opis testiranca, njegove namembnosti ter ključnih testnih zahtev za produkcijsko okolje. Osrednji del naloge zajema razvoj testne naprave in pripadajoče programske kode za izvajanje produkcijskih testov na ravni silicijevih rezin. Testna naprava z modularno zasnovo in s hierarhično strukturo programske opreme omogoča poleg testiranja čipov na silicijevih rezinah tudi testiranje že pakiranih čipov. Skupaj s kalibrirano testno napravo, pozicionirnikom rezin ter računalniško aplikacijo za avtomatizirano testiranje smo razvili celovit testni sistem, prilagojen ciljni družini integriranih vezij. V nadaljevanju pojasnimo pomen statistične analize meritev in optimizacije testnega časa. Izpostavimo tudi pomen in postopek izvedbe izbranih kvalifikacijskih testov. Rezultat projekta, katerega del je zaključna naloga, je uspešno izdelan in cenovno ugoden testni sistem, ki bo v prihodnosti omogočal testiranje več deset tisoč integriranih vezij letno.20252025-09-29 14:15:01Magistrsko delo/naloga174182VisID: 63187COBISS_ID: 258021635sl