Razvoj aplikacije za izračun zanesljivosti elektronskih vezijKerševan, Jan (Avtor) Sešek, Aleksander (Mentor) zanesljivostaplikacijaIEC 61709FITMTBFpogostost odpovediDiplomsko delo obravnava razvoj aplikacije, ki na podlagi vhodnih parametrov izračuna predvideno življenjsko dobo elektronskega vezja. Aplikacija omogoča izračun odpovedi v času (FIT), povprečni čas med zaporednimi odpovedmi (MTBF) ter verjetnost odpovedi v določenem časovnem okviru (angl. Chance of Failure) za vsako posamezno komponento, kot tudi za celotno vezje. Komponente, ki so vključene v aplikacijo so kondenzatorji, diode, tranzistorji, upori, integrirana vezja ter tuljave. Matematični model, ki ga aplikacija uporablja za izračun je razvit iz standarda mednarodne elektrotehniške komisije IEC 61709, Električne komponente - Zanesljivost – Referenčni pogoji za pogostost odpovedi in modeli stresa za pretvorbo. Metoda, po kateri je razvit model za računanje zanesljivosti se imenuje ``stres metoda'' (angl. Part stress method).20222022-07-22 11:35:02Diplomsko delo/naloga138478VisID: 61024COBISS_ID: 117060355sl