Določanje debeline filmske obloge pelet z dinamično slikovno analizoRižner, Leon (Avtor) German Ilić, Ilija (Mentor) Jaklič, Miha Tomaž (Komentor) pelete tehnologija iztiskanja tehnologija krogličenja dinamična slikovna analiza elektronski vrstični mikroskop laserska difraktometrija sejalna analiza dobra vzorčevalna praksa velikost delcev porazdelitev delcevDinamična slikovna analiza je ena izmed novejših metod za določanje velikosti delcev, ki je kvalitetna dopolnitev uveljavljenim metodam, kot so sejalna analiza, statična slikovna analiza, laserska difraktometrija in vrstični elektronski mikroskop. Namen magistrske naloge je oceniti primernost dinamične slikovne analize za določanje prirasta debeline filmske obloge na peletah ter rezultate primerjati z že prej omenjenimi uveljavljenimi metodami. Pri slikovni analizi tridimenzionalno telo analiziramo na podlagi dvodimenzionalnih projekcij iz katerih računsko določimo različne parametre velikosti. Primerjava različnih parametrov velikosti za pravilne kroglice pokaže dobro ujemanje med njimi. Za analizo pelet nepravilnih oblik pa sta najboljši minimalni Ferretov premer in maksimalni premer tetive, saj izkazujeta najmanjši relativni standardni odklon med ponovitvami meritev. Najboljšo reprezentativnost sekundarnih vzorcev smo dosegli s kanalnim razdelilnikom in z vzorčenjem s spatulo po temeljitem mešanju primarnega vzorca. Pokazali smo, da je za analizo debeline filmske obloge, kjer potrebujemo natančne meritve, primeren vzorec med 4 g in 10 g z relativnim standardnim odklonom ponovitev manjšim od 0,7 %, medtem ko je za oceno velikosti pelet dovolj že 200 mg vzorec. Teoretično je debelina filmske obloge enaka razliki velikosti vstopnih in končnih pelet. Ugotovili smo, da bi tak pristop bil primeren pri določitvah debeline debelejših oblog. Za določitve tanjših oblog pa se je boljše izkazal izračun debeline z modelom linearne regresije, postavljenim z vzorci z različnimi masnimi nanosi obloge. Napovedi modela se od direktnih meritev debeline z vrstičnim elektronskim mikroskopom razlikujejo od 0,6 μm do 2,6 μm pri debelinah filmske obloge manjših od 17 μm. Model se je tako zaradi upoštevanja primarne napake vzorčenja, sekundarne napake vzorčenja in napake merilne naprave izkazal za bistveno primernejšega kot izračun z razliko velikosti. Primerjava rezultatov s komplementarnimi metodami sejalne analize, statične slikovne analize, vrstičnega elektronskega mikroskopa in laserske difraktometrije so bili primerljivi rezultatom dinamične slikovne analize. Za določitev debeline filmske obloge pa sta dovolj natančni le vrstični elektronski mikroskop in laserska difraktometrija.[L. Rižner]20182020-09-17 12:21:23Magistrsko delo/naloga120273UDK: 543:661.12(043.3)COBISS_ID: 4657009sl