Določanje kapacitivnosti standardnega kondenzatorja po metodi štirih priključkovŠtibernik, Klemen (Avtor) Ponikvar, Dušan (Mentor) kapacitivnostimpedancaetalon kapacitivnostiV zaključni nalogi je predstavljena merilna metoda, s katero lahko izračunamo kapacitivnost štiriportnih etalonov kapacitivnosti v odvisnosti od frekvence in sicer do frekvenc višjih od 10 MHz. Namen merilne metode je pridobiti etalonske vrednosti kapacitivnosti etalonov pri frekvencah, kjer neposredna meritev z kapacitivnostnim mostom ni mogoča. Točne vrednosti kapacitivnosti etalonov so potrebne za kalibracijo novejših LCR merilnikov, ki so sposobni meriti kapacitivnost pri frekvencah, večjih od 1 MHz. V zaključni nalogi bom uporabil merilno metodo, ki je bila razvita v Nacionalnem metrološkem inštitutu v Turčiji, kjer so izpopolnili delo, ki je bilo opravljeno v Hewlett-Packard raziskovalni ustanovi na Japonskem. Pri merilnem postopku bom uporabil poenostavljen model vezja kondenzatorja in predpostavil teoretični model frekvenčne odvisnosti kapacitivnosti kondenzatorja. Vrednosti elementov poenostavljenega vezja, ki nastopajo v modelu, bom določil z meritvami. Pri meritvah kapacitivnostih elementov modela bo uporabljen kapacitivnostni most. Vrednost induktivnih elementov bom določil z meritvijo sipalnih parametrov, ki so kompleksna razmerja vpadnih in odbitih valov harmonskega napetostnega valovanja, merjena z vektorskim analizatorjem vezja. Rezultate bom primerjal z vrednostmi, ki so objavljene v literaturi in z etalonskimi vrednostmi kondenzatorjev, ki so bile pridobljene na kalibraciji v LNE (Laboratoire national de métrologie et d'essais) inštitutu. Merilno negotovost bom ocenil po splošnih vodilih, ki veljajo v metrologiji.20192019-09-29 07:45:03Zaključna naloga111381VisID: 102328COBISS_ID: 3374180sl