Lokalna karakterizacija piezoelektričnih in feroelektričnih lastnosti keramičnih plasti in kompozitnih nanopalčkFišinger, Val (Avtor) Kutnjak, Zdravko (Mentor) Uršič Nemevšek, Hana (Komentor) feroelektrikipiezoelektrični materialidebele keramične plasti $\mathrm{0.5BaZr_{0.2}Ti_{0.8}O_3–0.5Ba_{0.7}Ca_{0.3}TiO_3}$kompozitne nanopalčke $\mathrm{CoFe_2O_4/(Ba_{0.95}Ca_{0.05})(Ti_{0.89}Sn_{0.11})O_3}$mikroskopija na atomsko silopiezoodzivna mikroskopijamultiferoični materialiV delu smo raziskali feroelektrične in piezoelektrične lastnosti dveh sistemov: debelih plasti $\mathrm{0.5BaZr_{0.2}Ti_{0.8}O_3–0.5Ba_{0.7}Ca_{0.3}TiO_3}$ (BZT-BCT) in kompozitnih nanopalčk $\mathrm{CoFe_2O_4/(Ba_{0.95}Ca_{0.05})(Ti_{0.89}Sn_{0.11})O_3}$ (CFO/BCTS), pri čemer smo uporabili tehnike mikroskopa na atomsko silo. Pri debelih plasteh BZT-BCT smo ugotovili homogeno mikrostrukturo. S piezoodzivno mikroskopijo (PFM) smo pokazali, da plasti izkazujejo piezoelektrični odziv. Zaznali smo tudi preklapljanje feroelektričnih domen znotraj plasti. Meritve PFM kompozitnih nanopalčk CFO/BCTS so pokazale piezoelektrični odziv v vertikalni in literarni smeri in potrdile preklapljanje feroelektričnih domen. Izmerjen je bil maksimalni lokalni piezoelektrični koeficient d$_{33} \approx 6 \ \mathrm{\frac{pm}{V}}$. Znotraj nanopalčk so bila zaznana tudi območja brez piezoelektričnega odziva, ki ustrezajo fazi CFO. PFM je nepogrešljivo orodje za analizo feroelektričnih materialov. Pridobljene ugotovitve prispevajo k boljšemu razumevanju feroelektričnih lastnosti vzorcev na nanoravni in potrjujejo njihov potencial za uporabo v senzorskih in drugih funkcijskih napravah.20252025-12-19 13:00:26Diplomsko delo/naloga177291sl