Karakterizacija nanolusk $\mathrm{Mo_{1-x}W_xS_2}$ z Ramansko spektroskopijo in s kontaktno mikroskopijo na atomsko siloŠolar, Ana Marija (Avtor) Remškar, Maja (Mentor) Pogačnik Krajnc, Anja (Komentor) $\mathrm{Mo_{1-x}W_xS_2}$nanoluskekemijska transportna reakcija (CVT)kontaktna mikroskopija na atomsko silo (c-AFM)konfokalna Ramanska spektroskopijaV zaključnem delu sem sintetizirala in karakterizirala nanoluske $\mathrm{Mo_{1-x}W_xS_2}$, ki rastejo iz parne faze elementov molibdena, volframa in žvepla med kemijsko transportno reakcijo. Površinsko strukturo in topografijo nanolusk sem raziskala s kontaktno mikroskopijo na atomsko silo (c-AFM). Osredotočila sem se na višinske profile lusk, iz katerih sem ocenila debelino posamezne plasti $\mathrm{Mo_{1-x}W_xS_2}$. Optične lastnosti lusk sem raziskala s konfokalno Ramansko spektroskopijo, s katero sem določila Ramansko aktivna vibracijska stanja. Primerjala sem spektre posnete s 532 nm in 633 nm vzbujevalnima valovnima dolžinama. Z Ramanskim kartiranjem preko nanoluske sem identificirala lokalne kemijske razlike na nanoluskah. V nalogi sem se osredotočila na uporabo omenjenih metod pri karakterizaciji nanostrukturnih ternarnih materialov na primeru nanolusk $\mathrm{Mo_{1-x}W_xS_2}$.20252025-10-02 14:33:05Zaključna naloga174448sl