<?xml version="1.0"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"><rdf:Description rdf:about="https://repozitorij.uni-lj.si/IzpisGradiva.php?id=173705"><dc:title>Karakterizacija konic za vrstični tunelski mikroskop z vrstičnim elektronskim mikroskopom</dc:title><dc:creator>Anžlovar,	Jan	(Avtor)
	</dc:creator><dc:creator>Kladnik,	Gregor	(Mentor)
	</dc:creator><dc:creator>Van Midden Mavrič,	Marion A.	(Komentor)
	</dc:creator><dc:subject>Vrstični tunelski mikroskop</dc:subject><dc:subject>karakterizacija konic</dc:subject><dc:subject>optični mikroskop</dc:subject><dc:subject>vrstični elektronski mikroskop</dc:subject><dc:subject>elektrokemijsko jedkanje.</dc:subject><dc:description>Pri izbiri primernih konic za vrstični tunelski mikroskop (VTM) je zelo pomembno, da lahko ustrezno določimo velikost in obliko konice, saj morajo biti prave dolžine in ostrine, hkrati pa ne smejo biti umazane ali poškodovane. To je samo z optičnim mikroskopom težko določiti, saj zaradi valovne dolžine svetlobe ločljivost ni primerna, da bi lahko konice dovolj natančno karakterizirali. Zato se pri tem namesto optičnega uporablja vrstični elektronski mikroskop (VEM), ki za svoje delovanje namesto svetlobe uporablja curek elektronov. Elektrone v VEM-u pospešimo s potencialom več kilovoltov, zaradi česar je njihova valovna dolžina manjša od valovne dolžine svetlobe in zato omogoča slikanje vzorcev z bistveno večjo ločljivostjo.
Konice za VTM se pripravljajo tako, da se v raztopini natrijevega hidroksida (NaOH) pod napetostjo pojedka volframovo žičko, s čimer se ta na koncu ušpiči. Na obliko konice vpliva veliko faktorjev, zato moramo biti pozorni, pri kakšnih pogojih jedkamo.
Pri opazovanju z elektronskim mikroskopom curek elektronov usmerjamo v opazovane konice, nato pa zajemamo različne signale z uporabo specializiranih detektorjev. Elektroni iz curka interagirajo z atomi v vzorcu (konici), kjer pride do sipanja elektronov iz atomov, ki jih zaznamo z detektorjem sekundarnih elektronov (DSE), ali pa do odboja primarnih elektronov pri elastičnih trkih z jedrom, ki jih lahko zajamemo z detektorjem povratno sipanih elektronov (DPS).
Namen zaključne naloge je bil pripraviti konice za VTM z metodo jedkanja, se seznaniti z delovanjem VEM-a ter ga uporabiti za slikanje konic. Zajete slike je bilo nato potrebno obdelati ter izmeriti pomembne karakteristike konic, kot sta npr. njihova dolžina ter ostrina, ter končno presoditi, katere so primerne za nadaljnjo uporabo z VTM. Na podlagi ugotovitev, pri katerih pogojih nastanejo primerne konice, je končni cilj naloge podati ustrezne parametre izdelave konic ter na kaj je potrebno biti pozoren, da se konice ne uničijo ali umažejo.</dc:description><dc:date>2025</dc:date><dc:date>2025-09-20 08:15:29</dc:date><dc:type>Zaključna naloga</dc:type><dc:identifier>173705</dc:identifier><dc:language>sl</dc:language></rdf:Description></rdf:RDF>
