Merjenje specifične upornosti s štiri-točkovno in Van der Pauw metodoJovanovski, Teodor (Avtor) Vrtnik, Stanislav (Mentor) Luzar, Jože (Komentor) specifična upornostVan der Pauw metodaštiri-točkovna metodameritve nizke upornostisuperprevodnostniobijfazni diagramNatančno merjenje specifične upornosti v materialih nizke upornosti predstavlja izziv zaradi vpliva parazitnih upornosti merilnih vodnikov in kontaktov. V tej zaključni nalogi opisujem implementacijo, sistematično vrednotenje in uporabo Van der Pauw metode, ki omogoča natančne meritve na vzorcih poljubne oblike. Za ta namen smo v laboratoriju za električne in magnetne meritve na Fakulteti za matematiko in fiziko, Univerze v Ljubljani, razvili in izdelali namenski kabel s preklopno škatlo za merilni sistem QD PPMS® 9T. Sistem smo najprej testirali z meritvami na vzorcih iz aluminijaste folije. Referenčna štiri-točkovna meritev na vzorcu v obliki kvadra je dala specifično upornost ρ(300 K) = 3,1 ± 0,4 μΩ·cm, kar je v skladu z vrednostmi v literaturi. Sledile so meritve z Van der Pauw metodo na petih vzorcih različnih geometrij (kvadrat, krog, grški križi). Rezultati so potrdili veljavnost metode, saj so vse meritve dale med seboj skladne vrednosti specifične upornosti, s čimer smo dokazali neodvisnost metode od oblike vzorca. Preverjeno merilno tehniko sem nato uporabil za preiskovanje superprevodnih lastnosti vzorca niobija z visokim razmerjem preostale upornosti (RRR = 45,26). Pri ničelnem magnetnem polju sem določil kritično temperaturo Tc = 9,250 K. Z meritvami v zunanjih magnetnih poljih do 0,5 T sem opazoval zniževanje kritične temperature in uspešno konstruiral H-T fazni diagram, ki opisuje mejo med superprevodnim in normalno prevodnim stanjem. Delo dokazuje uspešno implementacijo zanesljivega sistema za karakterizacijo električnih transportnih lastnosti materialov.20252025-09-18 08:15:16Zaključna naloga173508sl