<?xml version="1.0"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"><rdf:Description rdf:about="https://repozitorij.uni-lj.si/IzpisGradiva.php?id=172587"><dc:title>Zaščitne naprave na diferenčni  tok</dc:title><dc:creator>Barlič,	Lara	(Avtor)
	</dc:creator><dc:creator>Hudoklin,	Domen	(Mentor)
	</dc:creator><dc:subject>zaščitna stikala</dc:subject><dc:subject>diferenčni tok</dc:subject><dc:subject>EFI</dc:subject><dc:subject>uhajavi tok</dc:subject><dc:subject>RCD</dc:subject><dc:subject>električne inštalacije</dc:subject><dc:subject>DC analiza</dc:subject><dc:description>Diplomska naloga obravnava testiranje zaščitnih naprav na diferenčni tok (RCD) kot ključen element varnosti v nizkonapetostnih električnih inštalacijah, s poudarkom na njihovem delovanju, pravilni uporabi, tipičnih napakah v inštalacijah ter vplivu uhajavih tokov in DC komponent na njihovo zanesljivost.

V teoretičnem delu so predstavljeni tipi RCD stikal (AC, A, B, B+), njihova uporaba glede na namen zaščite ter vezave v različnih električnih sistemih (TN, TT, IT). V osrednjem delu naloge so analizirane najpogostejše napake v povezovanju EFI-stikal, med katerimi izstopa neželena ponovna združitev nevtralnega (N) in zaščitnega (PE) vodnika. S pomočjo računske analize je pojasnjen vpliv te napake na tokovno porazdelitev in sproženje zaščitne naprave.

V eksperimentalnem delu so izmerjeni uhajavi tokovi različnih gospodinjskih naprav. Rezultati so potrdili, da se uhajavi tokovi različnih naprav seštevajo in povzročijo neželeno proženje zaščitnih naprav, če je na eno stikalo priključeno preveliko število naprav. Na podlagi meritev so bila oblikovana priporočila za načrtovanje tokokrogov z EFI zaščito, ki vključujejo omejevanje števila naprav na posamezno stikalo glede na njihove karakteristike. Eksperimenti so bili izvedeni v podjetju ETI, specializiranem za proizvodnjo zaščitnih stikal in sorodnih elektrotehničnih naprav.

Poleg tega so bile izvedene meritve vpliva DC-komponente na delovanje EFI stikal tipa A. Analiza je pokazala, da prisotnost enosmernega toka povzroči nasičenje magnetnega jedra v RCD in lahko zmanjša njegovo zanesljivost delovanja. Tip A se je izkazal kot neustrezen pri prisotnosti trajnih DC komponent, zato se v takih primerih priporoča uporaba naprav tipa B ali B+.</dc:description><dc:date>2025</dc:date><dc:date>2025-09-09 11:55:21</dc:date><dc:type>Diplomsko delo/naloga</dc:type><dc:identifier>172587</dc:identifier><dc:language>sl</dc:language></rdf:Description></rdf:RDF>
