<?xml version="1.0"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"><rdf:Description rdf:about="https://repozitorij.uni-lj.si/IzpisGradiva.php?id=150758"><dc:title>Optične metode za vrednotenje onesnaženosti zraka z aerosoli na podlagi meritev z vzorčevalnim filtrom</dc:title><dc:creator>KRAMBERGER,	ŽIGA	(Avtor)
	</dc:creator><dc:creator>Bürmen,	Miran	(Mentor)
	</dc:creator><dc:subject>Aerosol</dc:subject><dc:subject>transmisija</dc:subject><dc:subject>reflektanca</dc:subject><dc:subject>absorpcija</dc:subject><dc:subject>sipanje</dc:subject><dc:subject>vzorčevalni filter</dc:subject><dc:subject>nanos delcev</dc:subject><dc:subject>modeliranje širjenja svetlobe</dc:subject><dc:subject>metoda Monte Carlo.</dc:subject><dc:description>V tej diplomski nalogi je predstavljeno široko področje optišnih meritev aerosolov
z vzorčevalnimi filtri. Vrednotenje koncentracije prašnih delcev v zraku
temelji na meritvah spremembe transmisije svetlobe skozi vzorčevalni filter, na
katerem so zbrani prašni delci. Na optične meritve močno vplivajo optične in
geometrijske lastnosti delcev, vzorčevalnega filtra, vira svetlobe in tipala. Sprememba
transmisije je v večji meri posledica absorpcije in sipanja prašnih delcev
na filtru. Meritve delcev z vzorčevalnimi filtri predstavljajo velik izziv, saj so
podvržene številnim dejavnikom, ki lahko privedejo do napačne interpretacije rezultatov
meritev. Med njimi prevladuje učinek nalaganja delcev (ang. loading
effect) in učinek večkratnega sipanja (ang. multiple scattering effect). Oba učinka
je mogoče kompenzirati z ustreznimi algoritmi, ki s fiksnimi ali pa s časovno odvisnimi
korekcijskimi parametri popravijo rezultate meritev. S stohastično simulacijsko
metodo Monte Carlo prikažemo odvisnost reflektančnih in transmitančnih
meritev od geometrijskih in optičnih lastnosti fitra ter prašnih delcev, kot so to
absorpcijski koeficient, sipalni koeficient, sipalna fazna funkcija in lomni količnik.
Na podoben način ovrednotimo tudi reflektančne meritve z optično sondo z linearno
razporeditvijo optičnih vlaken. Pri tem velja izpostaviti močno odvisnost
izmerjene reflektance od debeline nanosa prašnih delcev in pripadajočega absorpcijskega
koeficienta, ki ga ga imajo ti delci, ter zanemarljivo odvisnost reflektance
od parametrov sipalne fazne funkcije.</dc:description><dc:date>2023</dc:date><dc:date>2023-09-22 11:45:01</dc:date><dc:type>Diplomsko delo/naloga</dc:type><dc:identifier>150758</dc:identifier><dc:language>sl</dc:language></rdf:Description></rdf:RDF>
