Algoritmi za obdelavo slik elektronske mikroskopije pri atomski ločljivostiKamšek, Ana Rebeka (Avtor) Čopar, Simon (Mentor) Dražić, Goran (Komentor) algoritmiobdelava slikelektronska mikroskopijamikroskopija na identični lokacijielektrokatalizananodelciVrstična presevna elektronska mikroskopija na identični lokaciji je metoda za karakterizacijo materialov, ki omogoča slikanje istih območij materiala pred in po nekem postopku. Uporaba te metode za opazovanje spreminjanja katalizatorjev za uporabo v vodikovih gorivnih celicah, ki so v obliki kovinskih nanodelcev na ogljikovi podlagi, omogoča zanesljivo ocenjevanje odnosov med njihovo strukturo in stabilnostjo, saj spremembe materiala lahko opazujemo na atomski skali. Za hitrejšo, bolj objektivno in ponovljivo analizo tovrstnih slik pri atomski ločljivosti se lahko poslužimo algoritmov za obdelavo slik. Magistrsko delo se fokusira na razvoj tovrstnih algoritmov, kjer je bilo glavno vodilo reciklirati drugje že uveljavljene koncepte ter jih prenesti v elektrokatalizo. Po uvodu v obravnavan problem sledi opis mikroskopije na identični lokaciji, simulacije slik in razvoja algoritmov za obdelavo slik. Slednje predstavlja jedro dela in obsega postopke predobdelave slik, določanje pozicij atomskih stolpcev, segmentacijo slike na strukturno različne dele in poravnavo slik na identični lokaciji pred in po nekem postopku. Algoritmi so bili razviti na realnih slikah katalizatorja z nanodelci iz zlitine platine in kobalta na ogljikovem nosilcu, testirani pa na simuliranih slikah idealiziranih modelov platinskih nanodelcev na ogljikovem nosilcu. Po pokazanem delovanju algoritmov na obeh tipih slik sledi uporaba rezultatov algoritmov na konkretnem primeru katalizatorja z nanodelci iz zlitine platine in kobalta ter komentar o prednostih in slabostih tovrstnega pristopa.20212021-09-09 08:15:07Magistrsko delo/naloga129882sl