<?xml version="1.0"?>
<rdf:RDF xmlns:rdf="http://www.w3.org/1999/02/22-rdf-syntax-ns#" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/"><rdf:Description rdf:about="https://repozitorij.uni-lj.si/IzpisGradiva.php?id=121052"><dc:title>Naprava za izvajanje kratkih stikov za preizkušanje varnosti električnih naprav</dc:title><dc:creator>DOŠLIĆ,	ALEN	(Avtor)
	</dc:creator><dc:creator>Jankovec,	Marko	(Mentor)
	</dc:creator><dc:subject>varnost</dc:subject><dc:subject>preizkušanje</dc:subject><dc:subject>tiristorski modul</dc:subject><dc:subject>mikroprocesor</dc:subject><dc:description>Diplomsko delo nas pelje skozi proces razvoja vezja za preizkušanje varnosti elektronskih naprav, ki je namenjeno izvajanju kratkih stikov na primarnem delu elektronskih naprav z uporabo tiristorskega modula. Glavni cilj je, da glede na kot odpiranja tiristorjev v tiristorskem modulu poiščemo najslabši pogoj za preizkušanje naprave in primerjamo izide testov med preizkusi pri različnih kotih odpiranja.
Na začetku se seznanimo z osnovami standardizacije, standardov in glavnimi institucijami, ki za vsem tem stojijo. V nadaljevanju opišemo nekaj osnovnih zahtev varnostnega standarda IEC 61010-1, nato pa se osredotočimo na zasnovo samega vezja. Da bi dosegli proženje tiristorjev ob poljubnem trenutku, najprej z ničelnim detektorjem zaznamo prehode vhodne izmenične napetosti skozi ničlo in proženje tiristorskega modula za določen čas zakasnimo. Ta zakasnitev je določena in odmerjena z uporabo mikroprocesorja, ki je preko zunanjega programatorja sprogramiran v programu Atmel Studio 7, električna shema in tiskano vezje pa je narisano v programu Altium Designer 2016. Proti koncu z različnimi zakasnitvami proženja tiristorskega modula poskušamo določiti najslabši pogoj za preizkušanje poskusnega vzorca.</dc:description><dc:date>2020</dc:date><dc:date>2020-09-29 11:50:00</dc:date><dc:type>Diplomsko delo/naloga</dc:type><dc:identifier>121052</dc:identifier><dc:language>sl</dc:language></rdf:Description></rdf:RDF>