Lokalizacija mej med odbojnimi površinami v deflektometrični aplikacijiKoželj, Janja (Avtor) Kristan, Matej (Mentor) konvolucijanevronske mrežesemantična segmentacijaaktivne konturedeflektometrijaV diplomski nalogi obravnamo problem detekcije mej med odbojnimi površinami med postopkom skeniranja z deflektometrijo. V tem postopku se na površino projicira črtast vzorec, kar močno otežuje lokalizacijo meje s standardnimi metodami. Zato predlagamo novo metodo za lokalizacijo mej, ki uporablja konvolucijsko nevronsko mrežo in aktivne konture. Uspešnost naše metode demonstriramo na slikah, kjer je prikazan stranski pogled avtomobila, detektiramo pa meje med vrati. Predlagana mreža je oblike enkoder dekoder in za boljše prepoznavanje vzorca uporablja razširjene konvolucijske sloje. Za najboljši postopek prileganja se izkaže robustno prileganje na segmentirani maski z uporabo aktivnih kontur, ki izboljša povprečno napako iz 5.00 na 2.67 pikslov. Predlagana metoda na testni množici doseže natančnost 0.91, priklic 0.68 in F-mero 0.76, procesiramo pa lahko približno 4.29 slik na sekundo.20202020-09-09 22:05:12Diplomsko delo/naloga119551sl