Podrobno

Meritev debelin ultra-tankih plasti z metodo rentgenske fotoelektronske spektroskopije : diplomsko delo
ID Franinović, Marko (Avtor), ID Cvetko, Dean (Mentor) Več o mentorju... Povezava se odpre v novem oknu, ID Kovač, Janez (Komentor)

.pdfPDF - Predstavitvena datoteka, prenos (2,98 MB)
MD5: 178AF07FCA81DE82B7A2579D59D58AF5
PID: 20.500.12556/rul/3a9f3e35-833a-4937-a078-548e9f58d437

Jezik:Slovenski jezik
Ključne besede:ultra-tanke plasti, rentgenska fotoelektronska spektroskopija, fotoefekt
Vrsta gradiva:Diplomsko delo
Tipologija:2.11 - Diplomsko delo
Organizacija:FMF - Fakulteta za matematiko in fiziko
Kraj izida:Ljubljana
Založnik:[M. Franinović]
Leto izida:2016
Št. strani:72 str.
PID:20.500.12556/RUL-97515 Povezava se odpre v novem oknu
UDK:543.428:539.26
COBISS.SI-ID:2926692 Povezava se odpre v novem oknu
Datum objave v RUL:26.10.2017
Število ogledov:4012
Število prenosov:495
Metapodatki:XML DC-XML DC-RDF
:
Kopiraj citat
Objavi na:Bookmark and Share

Sekundarni jezik

Jezik:Angleški jezik
Ključne besede:ultra-thin films, X-ray photoelectron spectroscopy, photoeffect

Podobna dela

Podobna dela v RUL:
Podobna dela v drugih slovenskih zbirkah:

Nazaj